奧林巴斯手持式XRF分析儀Vanta系列。
XRF被廣泛用于分析并測定貴金屬的純度和細度。
而我們的奧林巴斯Vanta分析儀易用便攜,
無需實驗室環(huán)境,無需電腦圖像顯示,
只需Vanta一下,
就可以對鉆石里的元素進行定量分析,
數(shù)秒之中辨別出真假鉆石。
我們拿市面上常見的立方氧化鋯來做驗證。
用肉眼來看,
立方氧化鋯(CZ)的外形與鉆石無異,
但是這種合成寶石更軟、更輕,
其邊緣更圓潤、更光滑。
也更容易受到磨損。
由于它與鉆石的光學相似性,
通常很難通過目測識別出這是一顆人造鉆石。
這兩件首飾
用肉眼看上去沒什么不同,
但是經過X射線熒光的檢測后,
奧林巴斯Vanta分析儀在第一件首飾中
沒有發(fā)現(xiàn)鋯(Zr)元素,
而在第二件首飾進行的化學分析中,
發(fā)現(xiàn)鋯(Zr)元素所占比重非常高。
我們知道,
真正的鉆石中只含碳元素,
由于第二件首飾中
含有大量鋯(Zr)元素,
因此我們可以斷定它為仿制品。
假鉆石就這樣被一眼看穿啦!