Vanta Element-S手持式XRF分析儀
經(jīng)濟實用的XRF檢測,可以在短短數(shù)秒中對元素進(jìn)行分析
Vanta Element-S手持式X射線熒光(XRF)分析儀可以在數(shù)秒鐘之內(nèi)可檢測出RCRA(《資源保護(hù)及恢復(fù)法案》)中所規(guī)定的危險性高含量元素、需優(yōu)先考慮的污染物質(zhì),以及危險金屬。
Vanta Element-S手持式X射線熒光分析儀可用于根據(jù)以下方法或規(guī)程進(jìn)行合規(guī)檢測:
XRF分析儀的高級特性
Vanta Element分析儀具有連通性能,有助于簡化廢料金屬的回收和質(zhì)量控制過程。
準(zhǔn)確且具有重復(fù)性的結(jié)果
Vanta分析儀的電子部件
Axon技術(shù)的穩(wěn)定性和計數(shù)率
方便的數(shù)據(jù)管理
具有無線連通性能(可選配),可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡(luò)上的文件夾中
使用奧林巴斯的科學(xué)云系統(tǒng)可以實現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲,并可實時以遠(yuǎn)程方式查看數(shù)據(jù)
直接將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到USB驅(qū)動盤中
用于存儲結(jié)果的1 GB工業(yè)用microSD卡
堅固耐用且經(jīng)濟實用的手持式XRF分析儀
這款分析儀可用于條件惡劣的環(huán)境中,且其擁有成本較低。
符合IP54評級標(biāo)準(zhǔn),具有防塵和防潮的特性
通過了墜落測試(MIL-STD-810G),可避免分析儀在墜落時受到損壞,從而減少了對分析儀進(jìn)行高成本維修的需求
經(jīng)過評定,在-10 °C到45 °C的溫度范圍內(nèi),可以持續(xù)進(jìn)行檢測
防磨不銹鋼面板
堅固,較厚的(50 μm)聚酰亞胺窗口可對分析儀起到保護(hù)作用
無需使用工具即可方便更換的窗口